我們日常生活中，很多生活物品都經（jīng）過（guò）鍍膜機鍍（dù）上了一層膜（mó）層，讓產（chǎn）品不（bú）僅（jǐn）變得（dé）更美觀，也更實用。但是很多人會有一個疑問（wèn），那既然是鍍了一層（céng）膜層，薄膜肯定是有厚度大小的，那麽薄膜厚度（dù）具體多厚呢，以及（jí）怎麽去測（cè）量？

       薄膜必須沉積在基底之上， 所以離開了基片也就無從談薄膜（mó）沉積的問題。基片的清洗好壞又對薄（báo）膜的質最有極共重要的影響。同時在（zài）薄膜的製（zhì）作中還必須知道薄膜的厚度，脫（tuō）離了薄膜的厚（hòu）度來談薄膜性（xìng）質的測最（zuì）也是亳無意義的。 所以， 膜厚的測量和基片的清洗可以說是（shì）和薄膜製作相關的重要技術。一般（bān）所謂的厚（hòu）度是指兩（liǎng）個完全平整的平（píng）行平麵之間的距（jù）離，這個概念是一個幾（jǐ）何概念。

        理想的薄膜厚度是（shì）指基片表麵和（hé）薄膜表麵之間的距離。在薄膜形貌的三（sān）維度量（liàng）中，相對於薄膜的厚度（dù）來講，其他（tā）兩維的度量可以說是（shì）無窮大。由於實際上存在的表麵是不平整和不連續（xù）的，而且薄膜的內部還（hái）可能存在（zài）著氣孔、雜質、晶格缺陷（xiàn）和表麵吸（xī）附分（fèn）子等（děng）等，所（suǒ）有（yǒu）要嚴格地定義和精確地測量（liàng）薄膜的厚度實際上是（shì）很困難的。

        膜厚的定義位當根據測址的方法和測址的目的決定。 因此，同一個薄膜（mó），使（shǐ）用不同的測量方法會得到不同的結果， 即不同的厚度。

        在薄膜油測量中的表麵並不是一個幾何的概念，而是一個 物埋概（gài）念，是指表麵分子（原子）的集合。 平均表麵是（shì）指表麵原子所有的點到這個麵的距離代數和等於零， 平均表麵是一個兒何概念。

        我們通常將基片的一側的表麵分子的集合的平（píng）均表麵稱為基片表麵；薄膜上不和基片接觸的那一側的表（biǎo）麵的平均表（biǎo）麵稱為薄（báo）膜的形狀（zhuàng）表麵，將所測量的薄膜原子重新排列，使其密度和大塊狀固體（tǐ）材料完全一樣且均勻的分布在基片表麵上，這時平均表麵稱（chēng）為薄膜質（zhì）量等價（jià）表麵（miàn）；根據所測量薄膜的物理性質等效為一種長度和寬（kuān）度與所測量的薄膜一樣（yàng）的（de）大塊固體材料的薄（báo）膜，這時的（de）平均表麵稱為薄膜物性等價表麵。 形狀膜（mó）厚是比較接近於直觀（guān）形式的（de）膜厚， 通常以µm為單位； 質量膜厚反映了（le）薄膜中包含物質為多少，通常 以 µg/cm#8217;為單位， 物性膜厚在實際使用上較有用， 而（ér）且比較容易測量。

         由於實（shí）際表麵並不平整，同時薄膜製作（zuò）過程中又不可避免地（dì）要有各種缺（quē）陷、 雜質和吸附分子等存在，所（suǒ）以不管用哪 一（yī）種方法來定義（yì）和測量膜厚，都是一（yī）個（gè）平均值，而且足包括了雜質、缺陷以及（jí）吸附分子在內的薄膜的厚度值。

        真空鍍膜機鍍膜是在真空腔體下進行鍍膜的，對（duì）於測量膜厚度來說，是需要這（zhè）方麵專業的測量儀才能測出（chū）厚度大小。

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